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賽可（SEC）X-RAY設(shè)備X-eye 6300 Series：搭載自主研發(fā)·生產(chǎn)的0.8um Focal spot size的Hybrid Open Tube，最小可檢測出50微米的細微缺陷。

賽可（SEC）X-RAY設(shè)備X-eye 6200 Series：搭載自主研發(fā)·生產(chǎn)的0.8微米focal spot tube和大面積Detector，確保高(High)分辨率圖像，最小也可以檢測出20微米的細微缺陷的設(shè)備。

賽可（SEC）X-RAY設(shè)備X-eye 6100 Series：為了用戶的便利性定期更新各種Easy-to-use功能。

賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160RT Series：半導(dǎo)體，電子產(chǎn)品，封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測設(shè)備Detector X-tlt與Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度。

賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye 7000Series:為您提供賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備的參數(shù)、價格、型號、原理等信息。

賽可（SEC）X-RAY檢測X-eye5000N Series:通過采用雙臂支撐的Z軸結(jié)構(gòu)方式，可快速地獲取清晰圖像。